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半導體冷熱沖擊測試設三箱式一樣有高溫儲存箱或者低溫儲存箱及樣品測試箱,樣品測試箱擺放的產品*靜止,還可以定制加開測試孔連線通電加負載測試。本設備滿足:GB/T2423.1-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫;GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法
半導體冷熱沖擊試驗機主要用于測試零部件、材料結構或復合材料,在瞬間下經*溫及極低溫的連續環境下所能忍受的程度,藉以在Z短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。該產品即適用于質量控制的實驗室,確定電工電子產品在貯存、運輸和使用期間可能遇到的溫度迅速變化的條件下的適應性,又可滿足生產過程中篩選商用產品
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